| Marchand, Jean-Claude (AIEP (Association internationale des experts en philatélie)) |
Attest |
Zumstein |
1 S |
| Rellstab, Emil (AIEP (Association internationale des experts en philatélie)) |
Attest |
Zumstein |
1 S III |
| Hunziker, Hans (AIEP (Association internationale des experts en philatélie)) |
Befund |
Zumstein |
1 W |
| Hunziker, Hans (AIEP (Association internationale des experts en philatélie)) |
Attest |
Zumstein |
1 W |
| Tseriotis, Michael (AIEP (Association internationale des experts en philatélie)) |
Attest |
Michel |
1; 4; 6; 7 |
| Brettl, Maria (AIEP (Association internationale des experts en philatélie)) |
Attest |
Michel |
1; U 17 A |
| Behr, Bernard und Pascal (AIEP (Association internationale des experts en philatélie)) |
Attest |
Prifix/Yvert |
10 |
| Hunziker, Hans (AIEP (Association internationale des experts en philatélie)) |
Attest |
Zumstein |
10 |
